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  • 光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng)
    光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng)
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    光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM是一個(gè)可簡便觀察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。

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  • 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300
    場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300
    型號(hào):
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    場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300 日立的冷場(chǎng)發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù),空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。

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  • 掃描電子顯微鏡 FlexSEM1000
    掃描電子顯微鏡 FlexSEM1000
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    掃描電子顯微鏡 FlexSEM100 Hitachi的掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000「良好的SEM設(shè)計(jì)得更加緊湊」 只有45厘米寬的緊湊型設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了4.0 nm的分辨率。 全新開發(fā)的用戶界面和電子光學(xué)系統(tǒng),使性能大幅提升。

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  • 球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
    球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
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    球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700 掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。

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  • 透射電子顯微鏡 HT7800
    透射電子顯微鏡 HT7800
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    透射電子顯微鏡HT7800系列 ~從生物醫(yī)學(xué)到材料領(lǐng)域~ 以創(chuàng)新的操作性,滿足廣泛領(lǐng)域的需求。 新一代TEM“RuliTEM“誕生。

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  • 透射電子顯微鏡 HT7700
    透射電子顯微鏡 HT7700
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    透射電子顯微鏡 HT7700 日立HT7700 : 數(shù)字一體化的TEM操作平臺(tái),操作簡便的通用性設(shè)計(jì) HT7700優(yōu)異的高反差、高分辨圖像觀察與強(qiáng)大的分析擴(kuò)展功能,可為生物醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥、食品、農(nóng)業(yè)、高分子、化學(xué)、納米材料等多領(lǐng)域提供*的TEM解決方案。

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