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當今世界越來(lái)越關(guān)注生態(tài)友好,半導體生產(chǎn)工藝的持續改進(jìn)則進(jìn)一步導致了集成電路內部組件尺寸越來(lái)越小,也變得越來(lái)越靈敏和脆弱。由此導致了芯片失效分析的一個(gè)特定挑戰:如何將樣品封裝去除卻不會(huì )導致功能失效? Nisene公司x一代的芯片開(kāi)封系統為半導體生產(chǎn)制造技術(shù)和失效分析之間的鴻溝搭建了一座橋梁:等離子芯片開(kāi)封機—PlasmaEtch Nisene科技集團有限公司從事集成電路失效分析的自動(dòng)開(kāi)封裝置研發(fā)超
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