透射電子顯微鏡 HT7700特色

設(shè)計(jì)良好：可在明亮房間簡便操作，標(biāo)準(zhǔn)配備自動(dòng)對中、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散等多種自動(dòng)功能

熒光屏相機(jī)和CCD主相機(jī)

可在明亮的環(huán)境下操作透射電鏡，在顯示器上直接觀測熒光屏相機(jī)的圖像，方便尋找目標(biāo)樣品。

目標(biāo)區(qū)域高速自動(dòng)回溯功能

所有拍攝的圖片將全部保存在圖像數(shù)據(jù)庫中，并以縮略圖方式顯示，每張縮略圖均包含所有圖像的屬性信息。點(diǎn)擊任意一張縮略圖，并選擇“Auto drive”，樣品臺(tái)將自動(dòng)回溯到此圖像拍攝時(shí)的位置。

全視野圖像導(dǎo)航（Whole View）和軌跡記錄功能

全視野圖像導(dǎo)航功能（Whole View），可以直接獲取微柵全景圖，便于更加直觀地進(jìn)行圖像導(dǎo)航。軌跡記錄功能可標(biāo)示樣品臺(tái)的移動(dòng)軌跡。樣品臺(tái)記憶功能可保存多達(dá) 100 個(gè)坐標(biāo)， 并可自動(dòng)移動(dòng)至坐標(biāo)位置。

自動(dòng)預(yù)輻照功能 （Auto Pre-Irradiation,API）

自動(dòng)預(yù)輻照功能（API）可快速穩(wěn)定樣品，防止漂移，尤其對觀測電子束敏感的樣品或不穩(wěn)定的樣品有極大幫助。自動(dòng)預(yù)輻照有多種操作模式（全景式掃描（Whole Scan）、邊框式掃描（Frame Scan）、區(qū)域式掃描（Area Scan））。用戶可選擇單種或多種模式組合，以達(dá)到*預(yù)輻照效果。

觀測區(qū)域的損傷痕跡（左），通過使用API 功能后，損傷痕跡可基本消除（右）。 API 功能可有效減少觀測過程中的樣品損傷和樣品漂移。

自動(dòng)漂移校正功能

樣品觀測時(shí)，由于樣品臺(tái)移動(dòng)慣性或局部熱脹冷縮，可能會(huì)導(dǎo)致樣品漂移。自動(dòng)漂移校正功能可對漂移量進(jìn)行檢測 并給予校正。通過自動(dòng)漂移校正功能，在各種觀察條件下均可獲取高清晰圖像。

高清畫質(zhì)：標(biāo)準(zhǔn)配備高像素相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了和電鏡的全功能一體化。研發(fā)的高精度算法，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)連續(xù)拍攝片，并自動(dòng)獲取無縫拼接的大視野圖

自動(dòng)拼圖功能可獲取高像素的大視野圖像

• 自動(dòng)拼圖功能可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)操作，完成連續(xù)的圖片采集、保存和拼接工作
• 高精度的自動(dòng)連續(xù)圖像采集，可通過電位偏移或樣品臺(tái)移動(dòng)兩種方式來實(shí)現(xiàn)。
• 研發(fā)的圖像拼接算法，可將自動(dòng)連續(xù)采集的圖像進(jìn)行高精度拼接，zui終獲得大視野高清圖像。

性能:日立*的雙隙物鏡設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高分辨模式／高反差模式兩種觀察模式

雙隙物鏡

• 日立*的雙隙物鏡設(shè)計(jì)，可以在長焦模式下實(shí)現(xiàn)高反差（HC） 觀察；在短焦模式下實(shí)現(xiàn)高分辨（HR） 觀察。
• 根據(jù)樣品的要求，用戶僅需通過軟件一鍵操作，就可以便捷實(shí)現(xiàn)高反差（HC） 模式和高分辨（HR） 模式的相互切換。
• 高反差（HC） 模式下，物鏡可動(dòng)光闌恰好設(shè)置在物鏡后焦面上，因而顯著提高圖像的襯度。
  （HC: High Contrast HR：High Resolution）

擴(kuò)展性強(qiáng)：可選配三維重構(gòu)功能、STEM附件、EDX微區(qū)分析、多種*樣品桿等，可選擇實(shí)現(xiàn)超高分辨觀測的高分辨透鏡EXALENS

三維重構(gòu)功能（選配）

HT7700的馬達(dá)臺(tái)具有很高的穩(wěn)定性，其自動(dòng)傾斜角度可達(dá)±70 °，結(jié)合日立*的重構(gòu)算法——包含TBR （Topography Based Reconstruction） 等多種重構(gòu)算法——可獲得高精度的三維重構(gòu)結(jié)果。

雙軸三維重構(gòu)（選配）

將樣品沿著α-β雙軸方向傾轉(zhuǎn)獲得的圖像結(jié)合起來，采用日立*的重構(gòu)軟件進(jìn)行處理，可以獲得誤差更小、更精確的三維重構(gòu)形貌圖。

掃描透射觀察設(shè)備（STEM）（選配）

明場（BF） 和暗場（DF） 檢測器可以安裝在HT7700上對樣品進(jìn)行STEM 分析。在BF-STEM 模式下色差系數(shù)減小，可以獲得清晰的高襯度圖像。高靈敏度的DF-STEM 檢測器，可高效檢測到散射電子，提高樣品Z 襯度。配合能譜EDX使用，可同時(shí)獲得多種元素的成分面分布圖。

高分辨透鏡EXALENS （選配）

EXALENS 是為HT7700設(shè)計(jì)的新型物鏡，低球差的高分辨透鏡EXALENS，分辨率可達(dá)0.144 nm（晶格像、加速電壓120 kV）。 EXALENS在較低的加速電壓下仍可進(jìn)行低損傷、高分辨成像，特別適用于軟材料、碳材料和高分子材料等領(lǐng)域的研究。

滿足不同應(yīng)用需求的多種樣品桿（選配）

根據(jù)不同的需求，用戶不僅可以選擇日立自主研發(fā)的各種功能的樣品桿（下圖所示），而且還可以選用其他廠商制造的冷凍，加熱，原位等多種樣品桿產(chǎn)品。

• One-touch 單樣品桿雙
• 雙軸傾斜樣品桿
• One-touch 三樣品桿
• 高溫加熱樣品桿
• 旋轉(zhuǎn)樣品
• 三樣品桿
• EDX 樣品桿

綠色環(huán)保：綠色清潔的無油真空系統(tǒng)，較前一代機(jī)型CO2 排放量減少30％

• HT7700的真空系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配備渦輪分子泵，可實(shí)現(xiàn)鏡筒清潔無油。渦輪分子泵還實(shí)現(xiàn)了綠色真空環(huán)境，能量消耗在電鏡運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)減少 30％，待機(jī)時(shí)減少 70％。 （與配備擴(kuò)散泵的H-7650 相比）
• HT7700榮獲日立集團(tuán)設(shè)立的環(huán)境友好型「綠色環(huán)保產(chǎn)品」。

透射電子顯微鏡 HT7700規(guī)格