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  • 雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
    雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
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    用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產(chǎn)品可實(shí)現先進(jìn)的自動(dòng)化操作,簡(jiǎn)單易用,并且能夠進(jìn)行高質(zhì)量的亞表面 3D 表征。

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